柔性智造的未來(lái)：FPC半導(dǎo)體封裝治具的突破性解決方案
在半導(dǎo)體封裝向高密度、微型化邁進(jìn)的進(jìn)程中，傳統(tǒng)剛性治具已無(wú)法滿足FPC軟性線路板的精密加工需求。東莞路登科技創(chuàng)新研發(fā)的第三代自適應(yīng)封裝治具通過(guò)磁-熱-力三位協(xié)同技術(shù)，實(shí)現(xiàn)了0.05mm超薄FPC的零損傷封裝，將晶圓級(jí)封裝良率提升至99.5%以上。
技術(shù)突破重構(gòu)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)
納米級(jí)接觸控制
采用微孔陣列真空吸附+邊緣磁力補(bǔ)償雙模系統(tǒng)，解決FPC翹曲導(dǎo)致的貼裝偏移問(wèn)題，芯片定位精度達(dá)±1.5μm，較傳統(tǒng)方案提升3倍。智能材料創(chuàng)新
基板集成石墨烯溫控層，在-196℃~300℃環(huán)境下保持熱膨脹系數(shù)小于0.5ppm/℃，匹配半導(dǎo)體級(jí)封裝工藝窗口。全流程兼容設(shè)計(jì)
可換式磁極模塊，支持從QFN到BGA等12種封裝形式切換，單套設(shè)備滿足5G射頻模組、折疊屏驅(qū)動(dòng)IC等前沿需求。
產(chǎn)業(yè)應(yīng)用實(shí)證
某國(guó)際封測(cè)龍頭采用該方案后，F(xiàn)PC基板封裝周期縮短至8秒/片，且因治具無(wú)金屬離子污染特性，使芯片可靠性測(cè)試通過(guò)率提升至98.7%。
智造新紀(jì)元
我們正開(kāi)發(fā)數(shù)字孿生系統(tǒng)，通過(guò)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)FPC形變數(shù)據(jù)動(dòng)態(tài)優(yōu)化治具參數(shù)，推動(dòng)半導(dǎo)體封裝進(jìn)入柔性智能時(shí)代。
